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三槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱

更新時間:2024-11-07
型號:
訪問次數(shù):1272
三槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要結(jié)構(gòu)是由三個槽(高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽)組成,高溫槽即是生產(chǎn)及儲存高溫,低溫槽即是生產(chǎn)及儲存低溫,產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅(qū)逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產(chǎn)品槽的空間內(nèi)完成試驗(yàn)。
適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之
  • 詳細(xì)內(nèi)容
品牌其他品牌價格區(qū)間10萬-20萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)

三槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要結(jié)構(gòu)是由三個槽(高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽)組成,高溫槽即是生產(chǎn)及儲存高溫,低溫槽即是生產(chǎn)及儲存低溫,產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅(qū)逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產(chǎn)品槽的空間內(nèi)完成試驗(yàn)。

適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它,目前此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測試工具。

技術(shù)參數(shù):

1.內(nèi)箱尺寸:W400mm*H500mm*D400mm(柳沁可根據(jù)顧客需要做出更多合適尺寸的設(shè)備)

2.外箱尺寸:以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍:+60℃~200℃;

4.升溫時間: +60℃~200℃≤30min;

5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍: -75~-10℃;

6.降溫時間: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能﹚

7.試驗(yàn)方式: 氣動風(fēng)門切換

8.溫度沖擊范圍: ﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚

9.溫度波動度: ±0.5℃

10.溫度偏差: ±2.0℃

11溫度恢復(fù)時間: ≤5分鐘

12.試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;

13.柳沁公司保證自家生產(chǎn)的三槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱的性能指標(biāo)滿足國家標(biāo)準(zhǔn),顧客可根據(jù)需要可請第三方(具有資質(zhì)能力的技術(shù)質(zhì)量監(jiān)督部門)參與檢定驗(yàn)收,檢定結(jié)論以檢定部門的報告為準(zhǔn),其費(fèi)用由我司承擔(dān)。若*次檢定不合格,經(jīng)供方改進(jìn)后再一次進(jìn)行檢定后還是不合格我司無條件給所有顧客退貨還款。不收取任何人工差旅費(fèi)用。更多高質(zhì)量設(shè)備也可向柳沁公司咨詢,如恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)設(shè)備、振動試驗(yàn)臺、拉力試驗(yàn)機(jī)、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)等。

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